국내 연구진이 개발한 나노측정기술이 국제전기기술위원회(IEC)에 의해 미세전자기계시스템(MEMS) 분야 국제표준 기술로 채택됐다.
교육과학기술부는 한국기계연구원 나노융합ㆍ생산시스템연구본부 이학주 박사팀이 개발해온 나노측정기술 '띠굽힘시험법'이 IEC에 의해 국제표준으로 선정됐다고 31일 밝혔다.

이번 국제표준채택으로 우리나라는 2010년 기준 13조5천억원의 시장 규모로 추정되는 나노측정기술 산업 분야에서 경쟁력을 확보할 수 있는 계기를 마련했다는 평가다.

이 박사팀이 개발한 띠굽힘시험법이란 각종 마이크로 및 나노 구조물 등에 사용하는 박막의 인장물성을 간편하고 정확하게 측정할 수 있도록 함으로써 측정의 자동화와 관련 제품들의 신뢰성 향상에 크게 기여할 수 있는 기술이다.

이밖에도 연구진은 미소 기둥 압축시험법, 박막의 열팽창계수 측정법 등 박막의 기계적 물성 측정법 분야에서도 국제표준을 주도하고 있다.